超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

H = v t / 2

式中: H-厚度; v-聲速; t-測量時間;

測量方法（模式）：

標引序號說明:

A-發(fā)射/接收探頭;A3-雙晶探頭

C-聲波傳輸時間;D-發(fā)射脈沖信號

F-界面回波;E1 E2-底面回波

G-延遲聲程;B-被測樣件

 P-E(單次回波法)

 測量初始脈沖和第一次底面回波之間的時間，同時對零點進行校正

  I-E(單次回波延時法)

  測量延遲塊界面波與第一次底面回波之間的時間

 E-E(兩次回波法)

  測量連續(xù)兩次底面回波之間的時間