1、范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于用電磁法測(cè)量磁性基體上的搪玻璃層厚度的方法，儀器名稱叫涂層測(cè)厚儀（磁感應(yīng)原理）。

2、原理

用電磁法測(cè)量通過(guò)覆蓋層與基體金屬磁路磁阻的變化而得到覆蓋層的度。

3 、影響測(cè)量精度的因素

3.1搪玻璃層厚度

搪玻璃層厚度的變化會(huì)影響測(cè)量精度,與所選用的儀器有關(guān)。對(duì)薄的玻璃層這個(gè)精度是一個(gè)常數(shù)值,與厚度無(wú)關(guān);對(duì)于厚的搪玻璃層,其精度隨搪玻璃層厚度的增加有所降低。

3.2 基體金屬的磁性

磁性測(cè)厚儀受基體金屬磁性變化的影響(低碳鋼的磁性變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)用與被測(cè)件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)樣來(lái)校準(zhǔn)儀器。最好用未搪玻璃前的試件來(lái)校準(zhǔn)。

3.3 基體金屬厚度

每種儀器都對(duì)被測(cè)件的基體金屬有一個(gè)臨界厚度的要求,超過(guò)這個(gè)厚度,測(cè)定值不會(huì)受到基體金屬厚度增加的影響。如果儀器制造廠未提供本臺(tái)儀器的臨界厚度值,應(yīng)通過(guò)試驗(yàn)確定。

3.4 邊緣效應(yīng)

被測(cè)件表面形狀的突變會(huì)影響磁性測(cè)厚儀的準(zhǔn)確性。因此,太靠近被測(cè)件邊緣或拐角處的測(cè)試數(shù)據(jù)是不可靠的,除非該儀器針對(duì)上述條件做了校準(zhǔn)。這種影響可能延伸到距邊角15mm處。

3.5 曲率被測(cè)件的曲率半徑越小,影響越顯著。這與儀器的類型有相當(dāng)大的關(guān)系。用雙極測(cè)頭測(cè)厚儀測(cè)量時(shí),測(cè)頭與圓柱體的軸向平行或垂直放置,讀數(shù)會(huì)不同。單極測(cè)頭如果測(cè)頭發(fā)生了不規(guī)則磨損,也會(huì)產(chǎn)生類似的現(xiàn)象。

因此,在彎曲試樣上測(cè)量前儀器要針對(duì)這種情況進(jìn)行專門(mén)校準(zhǔn),否則,測(cè)數(shù)據(jù)不可

3.6 表面粗糙度

如果在被測(cè)件粗糙表面上同一參考面積內(nèi)所測(cè)得的一系列數(shù)值明顯地超過(guò)儀器固有的重現(xiàn)性,則在某一點(diǎn)測(cè)量的次數(shù)至少應(yīng)增加到5次。

3.7基體金屬機(jī)加工方向

用雙極測(cè)頭或被磨損不平整的單極測(cè)頭的儀器測(cè)量時(shí),儀器讀數(shù)會(huì)受到磁性基體金屬機(jī)械加工(如軋制)方向的影響,測(cè)量值會(huì)隨測(cè)頭在被測(cè)件表面上放置的方向而變化。

3.8 剩磁

基體金屬中的剩磁對(duì)恒定磁場(chǎng)測(cè)厚儀測(cè)量的準(zhǔn)確性有影響。如果使用交變磁場(chǎng)磁阻型測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量,這種影響會(huì)減小很多。

3.9 磁場(chǎng)

周圍各種電器設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),嚴(yán)重干擾電磁式測(cè)厚儀的測(cè)量精度。

3.10 附著物質(zhì)

附著物質(zhì)會(huì)影響磁性測(cè)厚儀測(cè)頭與搪玻璃層表面緊密接觸,所以玻璃面和測(cè)頭必須保持干凈。

3.11 測(cè)頭壓力

施加于測(cè)頭壓力大小,對(duì)儀器讀數(shù)有影響。

3.12 測(cè)頭取向

對(duì)磁引力原理測(cè)厚儀,測(cè)頭方向與地球重力場(chǎng)方向相同或相反,測(cè)量讀數(shù)不同。因此,儀器測(cè)頭在與地球重力場(chǎng)方向相同或相反的情況下測(cè)量時(shí),應(yīng)作相應(yīng)校準(zhǔn)。

4 、儀器校準(zhǔn)

概述4.1、

測(cè)量前,每臺(tái)涂層測(cè)厚儀 應(yīng)按制造廠的說(shuō)明書(shū)用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)。使用中,每隔一段時(shí)間應(yīng)對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

4.2 、標(biāo)準(zhǔn)樣

用已知厚度的箔片或已知覆蓋層厚度的試樣作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片

4.2.1 校準(zhǔn)箔是指非磁性金屬或非金屬的片。

用箔來(lái)校準(zhǔn)磁性測(cè)厚儀時(shí),要保證箔與基體金屬緊密接觸“箔”有利于曲面的校準(zhǔn),比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。為了防止測(cè)量誤差,保證“箔”與基體金屬之間的緊密接觸,應(yīng)盡可能避免使用有彈性的箔片。箔片易產(chǎn)生壓痕,應(yīng)時(shí)常更換。

4.2.2 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片

在基體金屬上覆蓋一層均勻的、已知厚度的,并與其牢固結(jié)合的蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。

4.3 、校準(zhǔn)

4.3.1 用來(lái)校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬表面粗糙度和磁性要與被測(cè)件的相似。為了確保測(cè)量的準(zhǔn)確性，最好將在標(biāo)準(zhǔn)樣基體金屬上測(cè)得的數(shù)值與被測(cè)件的未塘玻璃的基體金屬上測(cè)得的數(shù)值加以比較。

4.3.2為了有效地排除基體金屬機(jī)械加工方向和剩磁對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確性的影響,校準(zhǔn)雙極測(cè)頭的儀器時(shí)必須將測(cè)頭旋轉(zhuǎn)幾個(gè) 90°,以判斷加工方向、剩磁的影響程度。

4.3.3 如果被測(cè)件的基體金屬厚度沒(méi)有超過(guò)儀器要求的臨界厚度,用來(lái)校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)樣的基體金屬厚度必須與被測(cè)件的基體金屬的厚度相同。

通常可用一有足夠厚度的與被測(cè)件基體金屬材質(zhì)相同的金屬,墊在用來(lái)校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)樣和被測(cè)件的基體金屬的下面,使測(cè)量結(jié)果與基體金屬的厚度無(wú)關(guān)。

4.3.4 檢測(cè)有曲率的搪玻璃件時(shí),用于校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)片或校準(zhǔn)箔金屬基體的曲率應(yīng)與被測(cè)件曲率相同

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