根據(jù)GB/T 18852-2020/IS012715:2014標(biāo)準(zhǔn)給出了超聲波接觸式探頭聲速特性測(cè)試的參考試塊規(guī)格型號(hào)及圖紙介紹，標(biāo)準(zhǔn)推薦了兩種金屬參考試塊,分別為半圓階梯試塊(HS試塊)和橫孔試塊(SDH試塊)。

半圓階梯試塊(HS試塊)

半圓階梯(HS)試塊的尺寸,見圖1所示。該試塊應(yīng)由實(shí)心圓柱體金屬加工而成。在試塊加工成圓柱體階梯狀后,沿圓柱軸線剖開,加工到規(guī)定的表面狀態(tài)。半圓階梯的半徑分別為20mm、40mm、50mm、80mm、91 mm和100 mm。半徑為20 mm~80 mm的階梯寬度為 25 mm,半徑為100 mm的階梯寬度為30mm,半徑為9lmm的階梯寬度為28mm。在100mm和91mm階梯之間有一條半徑為 85 mm 的凹槽,槽寬2mm。沿槽中心的X軸,HS試塊分割成軸對(duì)稱的中心線Y軸,以及相鄰階梯邊界線均應(yīng)在其表面刻線標(biāo)識(shí)。試塊宜置于適宜的試塊架上使用。試塊架不應(yīng)損傷試塊,也不應(yīng)因支撐對(duì)試塊產(chǎn)生聲學(xué)性能影響。

橫孔試塊(SDH試塊)

橫孔(SDH)試塊的尺寸,見圖2所示。試塊長300mm,寬25mm,高100mm。試塊上加工8個(gè)孔徑均為1.5 mm的橫孔。橫孔的標(biāo)識(shí)分別為SDH、SDH:、SDH、SDH、SDH、SDH、SDH 和SDH:。橫孔的長軸應(yīng)平行于試塊頂面和底面。試塊表面的標(biāo)識(shí)分別為T-面、B-面、R-面、L-面和F-面。SDH下角標(biāo)數(shù)值,表示橫孔中心到T-面的距離。例如,標(biāo)識(shí)為SDH。的孔中心到T-面的距離為2 mm。標(biāo)識(shí)為SDH的孔中心到 B面、R-面和T-面的距離分別為40mm,50mm和60mm。SDH,到1.-面的距離為40 mm,相鄰孔的間距為 30mm。在 F-面近 B-面的邊緣用短刻線標(biāo)識(shí)折射角(0°~70°)。試塊加工完成后,可在任一F-面上刻上該材質(zhì)的標(biāo)稱縱波和橫波聲速。

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